강의계획서
| 교과목코드 | SE230007 | 교과목명 | 반도체테스트설계 |
|---|---|---|---|
| 강의학과 | 반도체공학과 | 교수 | 김유빈 |
| 교수소속 | 반도체공학과 | 이수학년 | |
| 과목구분 | 과정구분 | 석·박사공통 | |
| 이메일 | ybkim76@mju.ac.kr | 전화번호 |
| 주차 | 주제 |
|---|---|
| 1주차 | Introduction |
| 2주차 | Test Review I |
| 3주차 | Test Review II |
| 4주차 | Diagnosis I |
| 5주차 | Diagnosis II |
| 6주차 | Design for Testability I |
| 7주차 | Design for Testability II |
| 8주차 | Midterm Exam |
| 9주차 | Design for Testability III |
| 10주차 | Design for Testability IV |
| 11주차 | BIST I |
| 12주차 | BIST II |
| 13주차 | Technical Issues and discussion related to DFT |
| 14주차 | Technical Issues and discussion related to DFT |
| 15주차 | Final Exam |
| 16주차 |